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針對(duì)不同電路的測(cè)試類型。隨著半導(dǎo)體科技的不斷發(fā)展和進(jìn)步,集成電路的集成度越來(lái)越高,集成電路設(shè)計(jì)單位已
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括探針臺(tái)、分選機(jī)、測(cè)試機(jī)等。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則
當(dāng)前美國(guó)和日本廠商代表了全球半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備的前沿制造技術(shù)，國(guó)際知名測(cè)試設(shè)備企業(yè)日本愛(ài)德萬(wàn)（Advantest）、美
針對(duì)不同電路的測(cè)試類型。隨著半導(dǎo)體科技的不斷發(fā)展和進(jìn)步,集成電路的集成度越來(lái)越高,集成電路設(shè)計(jì)單位已
